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Centrum für Materialanalytik
Christian-Albrechts-Universität zu Kiel
Angebotsnr. 11046
Stichwörter:
Dünnschichten, Grenzflächen, Materialforschung, Mikroanalyse, Oberflächenspektroskopie, Rasterelektronenmikroskopie
 
Leistungsangebote
  • Struktur und Spektroskopie von Oberflächen
  • Qualitätskontrolle und Defektanalyse
  • Projektbegleitung bei Prozeßoptimierungen
  • Phasen-, Textur- und Spannungsanalyse von Festkörpern
  • Chemische Volumen- und Verteilungsanalyse
  • Charakterisierung von Solarzellen und Silizium
  • Charakterisierung der Mikrostruktur und Chemie von Grenzflächen, Oberflächen und Dünnschichtsystemen
  • Optimierung von Wärmebehandlungsprozessen
  • Materialprüfung und Schadensanalysen
  • Materialcharakterisierung
  • Thermische Analyse
Weiterbildungsangebote
  • Einführung in die Methoden der thermischen Analyse
  • Einführung in die Röntgenbeugungsanalyse von Materialien
  • Werkstoffprüfung für die Praxis und berufliche Weiterbildung
Forschungsgebiete
  • Materialwissenschaften
Technische Ausstattung
  • Rasterelektronenmikroskopie
  • Augenelektronenspektroskopie
  • Laserscanning-Mikroskopie
  • Lebensdauer / Diffusionslängen durch elektrochemische Abbildung
  • Mechanische Werkstoffprüfung
  • Mikro- und Makrohärteprüfung
  • Optische Emissionsspektroskopie
  • Atomemissionsspektrometrie
  • Profilometrie
  • Transmissionselektronenmikroskopie
  • Rasterkraftmikroskopie
  • Rastertunnelmikroskopie
  • Röntgendiffraktometrie
  • Röntgenstrahlmikroanalyse
  • Simultan-Thermoanalyse
  • Thermoanalyse
  • Thermogravimetrie
  • Photoemissionsspektroskopie
Anwendungsfelder
  • Materialprüfung und mechanische Eigenschaften
  • Mikroanalyse von Materialien, Grenzflächen und Dünnschichtsystemen
  • Materialforschung für Funktionsmaterialien
Abbildungen
 
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