Centrum für Materialanalytik 
Christian-Albrechts-Universität zu Kiel
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Angebotsnr. 11046
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Stichwörter:
Dünnschichten, Grenzflächen, Materialforschung, Mikroanalyse, Oberflächenspektroskopie, Rasterelektronenmikroskopie |
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Leistungsangebote |
- Struktur und Spektroskopie von Oberflächen
- Qualitätskontrolle und Defektanalyse
- Projektbegleitung bei Prozeßoptimierungen
- Phasen-, Textur- und Spannungsanalyse von Festkörpern
- Chemische Volumen- und Verteilungsanalyse
- Charakterisierung von Solarzellen und Silizium
- Charakterisierung der Mikrostruktur und Chemie von Grenzflächen, Oberflächen und Dünnschichtsystemen
- Optimierung von Wärmebehandlungsprozessen
- Materialprüfung und Schadensanalysen
- Materialcharakterisierung
- Thermische Analyse
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Weiterbildungsangebote |
- Einführung in die Methoden der thermischen Analyse
- Einführung in die Röntgenbeugungsanalyse von Materialien
- Werkstoffprüfung für die Praxis und berufliche Weiterbildung
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Forschungsgebiete |
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Technische Ausstattung |
- Rasterelektronenmikroskopie
- Augenelektronenspektroskopie
- Laserscanning-Mikroskopie
- Lebensdauer / Diffusionslängen durch elektrochemische Abbildung
- Mechanische Werkstoffprüfung
- Mikro- und Makrohärteprüfung
- Optische Emissionsspektroskopie
- Atomemissionsspektrometrie
- Profilometrie
- Transmissionselektronenmikroskopie
- Rasterkraftmikroskopie
- Rastertunnelmikroskopie
- Röntgendiffraktometrie
- Röntgenstrahlmikroanalyse
- Simultan-Thermoanalyse
- Thermoanalyse
- Thermogravimetrie
- Photoemissionsspektroskopie
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Anwendungsfelder |
- Materialprüfung und mechanische Eigenschaften
- Mikroanalyse von Materialien, Grenzflächen und Dünnschichtsystemen
- Materialforschung für Funktionsmaterialien
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Abbildungen |
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